[Now] [리포트] 전자현미경 원리 및 시편준비
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작성일 23-08-09 00:46
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2. experiment(실험)의 방법
-시험편의 준비여기서는 …(drop)
① 시험편의 절단
② 시험편의 연마(polishing)
③ 시험편의 단면의 손질(cleaning)
④ 시험편 단면의 부식(etching)
⑤ 시험편의 코팅
3. 전자현미경구조
4. 렌즈 수차
1) Chromatic aberration(색수차)
[리포트] 전자현미경 원리 및 시편준비
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실험과제/기타
설명
순서
다. 제작한 세라믹 재료의 표면형상 및 average(평균) 결정립 크기를 주사전자현미경 사진 分析(분석)을 통해 측정(測定) 해봄으로써 주사전자현미 경에 대한 일반적인 이해를 얻는다.
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[리포트] 전자현미경 원리 및 시편준비
1. experiment(실험)의 목적
재료의 표면을 현미경으로 觀察(관찰) 하면 석출상이나 결정립의 크기 및 형상 등을 판단할 수 있다 광학 현미경이 배율 X 2,000 이하의 이미지를 얻을 수 있는데 비해 일반적으로 사용되는 주사전자현미경(Scanning Electron Microscopy)은 배율 X 100,000 이하의 고배율 이미지를 얻을 수 있고, FE-SEM(Field Emission Scanning Electron Microscopy)는 최고 X 500,000의 배율로도 재료를 觀察(관찰) 할 수 있다주사전자현미경 사진을 통해 재료 단면형상의 觀察(관찰) , 분말의 입자 크기, 그 리고 박막재료의 두께 등을 알 수 있는데, 이에 따른 기계적 特性(특성) 변화 를 해석할 수 있게 된다된다.
